| поискавой системы для электроныых деталей |
|
AN3181 датащи(PDF) 28 Page - STMicroelectronics |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
AN3181 датащи(HTML) 28 Page - STMicroelectronics |
|
28 / 31 page ![]() Class B solution structure AN3181 28/31 Doc ID 17286 Rev 2 Figure 19. Fault coupling principle used at partial RAM run mode self test Table 4. March C- phases at RAM partial test March phase Partial bytes test over the block Address order Initial Write 0x00 pattern Increasing 1 Test 0x00 pattern, write 0xFF pattern Increasing 2(1) 1. Steps 2 and 3 are skipped over when March X algorithm is used. Test 0xFF pattern, write 0x00 pattern Increasing 3(1) Test 0x00 pattern, write 0xFF pattern Decreasing 4 Test 0xFF pattern, write 0x00 pattern Decreasing 5 Test 0x00 pattern Decreasing |
|
ссылки URL |
| Вашему бизинису помогли Аллдатащит? [ DONATE ] |
Что такое Аллдатащит | реклама | контакт | Конфиденциальность | Ссылка на техническое описание | обмен ссыками | поиск по производителю All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |