| поискавой системы для электроныых деталей |
|
DS26C32AME/883 датащи(PDF) 4 Page - National Semiconductor (TI) |
|
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
DS26C32AME/883 датащи(HTML) 4 Page - National Semiconductor (TI) |
|
4 / 11 page ![]() Test and Switching Waveforms (Continued) AC Test Circuit and Switching Time Waveforms 00876404 CL includes load and test jig capacitance. S1 =VCC for t PZL, and tPLZ measurements. S1 = Gnd for tPZH and tPHZ measurements. FIGURE 2. Test Circuit for TRI-STATE Output Tests 00876405 FIGURE 3. TRI-STATE® Output Enable and Disable Waveforms 00876406 FIGURE 4. Load Test Circuit for TRI-STATE Outputs for “LS-Type” Load www.national.com 4 |
|
|
ссылки URL |
| Вашему бизинису помогли Аллдатащит? [ DONATE ] |
Что такое Аллдатащит | реклама | контакт | Конфиденциальность | Ссылка на техническое описание | обмен ссыками | поиск по производителю All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |