 |
поискавой системы для электроныых деталей |
|
|
поискавой системы для электроныых деталей |
|
SMP30-200 датащи(PDF) 4 Page - STMicroelectronics |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
SMP30-200 датащи(HTML) 4 Page - STMicroelectronics |
|
|
4 / 6 page  SMP30-xxx Series 4/6 TEST CIRCUIT 2 for IH parameter. R -VP V BAT = - 48 V Surge generator D.U.T. This is a GO-NOGO Test which allows to confirm the holding current (IH) level in a functional test circuit. TEST PROCEDURE : n 1) Adjust the current level at the IH value by short circuiting the AK of the D.U.T. 2) Fire the D.U.T with a surge Current : Ipp = 10A , 10/1000 µs. 3) The D.U.T will come back off-state within 50 ms max. |
|
|
ссылки URL |
| Вашему бизинису помогли Аллдатащит? [ DONATE ] |
Что такое Аллдатащит | реклама | контакт | Конфиденциальность | Ссылка на техническое описание | обмен ссыками | поиск по производителю All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |
Russian ▼
English
Chinese
German
Japanese
Russian
Korean
Spanish
French
Italian
Portuguese
Polish
Vietnamese
Indian
Mexican
British
New Zealand
